硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會
發(fā)布日期:
2024-06-28

7月4日 下午14:00—16:00


是德科技舉辦硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會


硅光在片測試平臺為硅光產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供了強大的技術(shù)支持,幫助研發(fā)人員優(yōu)化設(shè)計、提高產(chǎn)品質(zhì)量,推動硅光技術(shù)在通信、計算、傳感等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。在當今科技飛速發(fā)展的時代,硅光技術(shù)正以其獨特的優(yōu)勢,為光通信、數(shù)據(jù)中心等領(lǐng)域帶來前所未有的變革。


會議日程

1.硅光芯片及器件on-wafer發(fā)展趨勢及測試解決方案更新

2.硅光子器件的晶圓和芯片級創(chuàng)新測試方案


演講嘉賓


袁泉博士?FormFactor的高級光學(xué)工程師

袁博士畢業(yè)于田納西大學(xué)諾克斯維爾分校電氣工程與計算機科學(xué)系,獲得博士學(xué)位。畢業(yè)后,他在普渡大學(xué)擔任研究助理教授,后加入FormFactor。在FormFactor,袁博士主要負責(zé)硅光子學(xué)相關(guān)產(chǎn)品的研究和開發(fā),特別是作為FormFactor Pharos技術(shù)的技術(shù)負責(zé)人。他的研究興趣包括硅光子學(xué)、MEMS制造和光電系統(tǒng)集成。袁博士在各個領(lǐng)域發(fā)表了大量論文,并持有多項專利。

?朱振華 是德科技光通信資深解決方案工程師


朱振華畢業(yè)于華中科技大學(xué)(本科)以及清華大學(xué)(碩士)。于2011年加入是德科技公司,作為應(yīng)用工程師工作至今。主要負責(zé)為各大光器件及光網(wǎng)絡(luò)設(shè)備企業(yè)、高??蒲性核峁┕馔ㄐ艤y試方面的技術(shù)支持和服務(wù),對光通信領(lǐng)域內(nèi)的核心器件和網(wǎng)絡(luò)、相干光通信、高速光電接口等的測試方法原理有深入了解和豐富的實測經(jīng)驗。


和創(chuàng)聯(lián)合—在片軟件平臺


硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會


硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會


和創(chuàng)聯(lián)合在片測試平臺是專門為硅光芯片和器件的性能評估而設(shè)計的先進系統(tǒng)。

硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會

它具有高度集成化和自動化的特點,能夠在芯片級別對硅光器件進行全面、精確的測試。


硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會



我們的軟件集成了豐富的自研模塊,能夠全面展示硅光芯片的特性。不僅如此,軟件支持多種測試模式,從研發(fā)到量產(chǎn),顯著節(jié)省測試時間。


用戶界面設(shè)計簡潔直觀,操作流程清晰易懂,并提供豐富的在線教程和實時幫助功能,隨時為用戶解答疑惑。


此外,我們的軟件支持標準接口儀表的拓展接入,并可根據(jù)用戶的個性化設(shè)計需求進行編程,真正打破傳統(tǒng)軟件的局限性。


硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會



經(jīng)過嚴格的測試和驗證,在長時間運行和處理大規(guī)模數(shù)據(jù)時保持穩(wěn)定,確保測試工作的順利進行


和創(chuàng)聯(lián)合在片測試平臺擁有完善的備份和恢復(fù)機制,為用戶的數(shù)據(jù)安全提供堅實保障。

硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會

硅光芯片及器件on-wafer測試技術(shù)研討會







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