基于InfinityXF?探針的這款創(chuàng)新的同軸晶圓級測試解決方案，專為滿足半導(dǎo)體器件在高頻范圍內(nèi)的精確測試需求而設(shè)計。它基于FormFactor成熟的Infinity平臺，與是德科技PNA-X測試系統(tǒng)和250GHz同軸模塊無縫協(xié)作，單次掃描即可覆蓋直流至250GHz寬頻帶，大幅簡化高頻測量流程。

該方案核心優(yōu)勢包括：提供GSG、GSGSG等多種拓撲結(jié)構(gòu)，支持50μm至150μm間距；超緊湊設(shè)計有效降低插入損耗和回波損耗；銠金針尖確保長期穩(wěn)定接觸，并支持-40°C至175°C環(huán)境工作。同時，它具備自動化就緒能力，可搭配自動射頻測量助手實現(xiàn)24小時無人值守測試。

此方案避免了同軸與波導(dǎo)探針混用的復(fù)雜性，顯著縮短設(shè)置時間，提供更快的測量速度、更高可重復(fù)性和更低的S參數(shù)不確定度。適用于高速數(shù)字通信、器件特性分析、諧波測量等領(lǐng)域，助力下一代無線系統(tǒng)及高速數(shù)字鏈路的研發(fā)與生產(chǎn)。

和創(chuàng)聯(lián)合科技提供全方位系統(tǒng)集成，整合全球領(lǐng)先儀表與探針臺，并開發(fā)定制測試軟件，支持客制化界面、全自動測量及數(shù)據(jù)二次處理，實現(xiàn)從硬件控制到結(jié)果分析的完整流程，兼顧卓越射頻性能、量產(chǎn)穩(wěn)定性與研發(fā)效率。