單端TDR差分插入損耗法（Single-Ended TDR to Differential Insertion Loss，簡稱SET2DIL）是Intel最早開發(fā)的傳輸線損耗測試方法，也是IPC規(guī)定的損耗測試方法之一，該方法將差分對末端短接，使用兩端口的TDR儀器簡化測量，利用單端線路測量差分損耗。

整個系統(tǒng)由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，SET2DIL探頭，測試軟件（PC）組成。SET2DIL方法的典型測量頻率范圍為2 GHz ~ 12 GHz，優(yōu)勢是校準(zhǔn)件結(jié)構(gòu)簡單，校準(zhǔn)耗時也大幅度降低，非常適合用于PCB制造的批量測試。