半導(dǎo)體光刻測量系統(tǒng)
半導(dǎo)體光刻測量系統(tǒng)
半導(dǎo)體光刻測量系統(tǒng)

光源從Keysight 5517系列激光器發(fā)出,應(yīng)用10717A波長跟蹤器和多軸測量鏡組進行測試。跟蹤空氣折射率的變化,對環(huán)境變化進行光學(xué)補償,以減小環(huán)境溫度等因素影響波長輕微變化所帶來的結(jié)果偏差。多軸系統(tǒng)客戶的位移臺發(fā)生一個極小的位移,可通過軟件讀取數(shù)據(jù),這個數(shù)據(jù)分辨率在納米級。

半導(dǎo)體光刻測量系統(tǒng),被測物與探測系統(tǒng)之間一般要產(chǎn)生相對運動才能測出所需參數(shù)。 位移系統(tǒng)的作用就是產(chǎn)生探針相對于樣品的掃描運動,是其中最基礎(chǔ)的部分。激光干涉儀對光刻系統(tǒng)中平臺、運動控制系統(tǒng)、自動對位系統(tǒng)等進行校準(zhǔn),保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

  • 產(chǎn)品特點
  • 主要參數(shù)

l雙頻激光干涉儀,雙頻輸出保證光刻系統(tǒng)測量精準(zhǔn)性

l系統(tǒng)固件穩(wěn)定,極低的底噪和漂移量,保證光刻系統(tǒng)的穩(wěn)定性

l高定位精度和重復(fù)精度

l精確的傳感器,進行環(huán)境溫漂等的補償

l多軸板卡可在一次測量中得到所有軸的測量數(shù)據(jù)


主要測量參數(shù):相對位置/速度等等

激光在真空中波長: 632.991372 nm (5501B, 5517A/B) ,632.991354 nm (5517C/D)

波長精度:± 0.1 ppm

波長穩(wěn)定性(典型值):短程(1 小時): ± 0.002 ppm

長程 (全部時間): ± 0.02 ppm

測量分辨率:0.15nm

激光器最大輸出光功率:1mW

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