Delta-L PCB損耗測(cè)試方案
Delta-L PCB損耗測(cè)試方案
Delta-L PCB損耗測(cè)試方案
Delta-L PCB損耗測(cè)試方案
Delta-L PCB損耗測(cè)試方案

Delta-L 是由Intel提出的一種損耗測(cè)試方法,已經(jīng)在PCB損耗測(cè)試領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,系統(tǒng)由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,delta-l探頭,智能化軟件組成三部分組成。整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)可完成快速而精確的損耗測(cè)試。測(cè)試軟件不僅可直觀顯示具體頻點(diǎn)的數(shù)據(jù),還可以生成圖表,直觀展示測(cè)試結(jié)果。

整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)專為工廠PCB的大規(guī)模測(cè)試而設(shè)計(jì),通過專用delta-l探頭能快速定位PCB板的定位孔,使得測(cè)試速度得到大幅度提升,同時(shí)也能達(dá)到非常好的精度。

  • 產(chǎn)品特點(diǎn)
  • 主要參數(shù)

●?測(cè)試頻率高

●?測(cè)試精度高

●? 測(cè)試速度快

●?導(dǎo)入S參數(shù)即可計(jì)算

●?易用的軟件界面


測(cè)試頻率:10MHz~40GHz

測(cè)試分辨率:0.001dB

測(cè)試重復(fù)性:±0.005dB

測(cè)試線長:大于2inch

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