硅光在片測(cè)量
硅光在片測(cè)量
硅光在片測(cè)量
硅光在片測(cè)量
硅光在片測(cè)量

硅光子學(xué)融合了集成電路和光通信兩種技術(shù),這兩種技術(shù)沿著平行但獨(dú)立的路徑發(fā)展?;诩す獾墓馔ㄐ旁陂L(zhǎng)距離上產(chǎn)生非常高的帶寬和低損耗的信號(hào)傳輸。FormFactor的精密探針臺(tái)CM300SiPh,配套Keysight儀表(光波元器件分析儀/光源/偏振控制器/光功率計(jì)等)很好地說明了如何在新技術(shù)大規(guī)模生產(chǎn)之前,就參與解決晶圓測(cè)試的挑戰(zhàn)。

和創(chuàng)科技提供全套的硅光系統(tǒng)集成方案,提供全球領(lǐng)先的測(cè)試儀表和探針臺(tái),同時(shí)支持為您定制化的集成測(cè)試軟件,保障測(cè)試的精確。我們有客制化界面:基于完整的底層驅(qū)動(dòng)和測(cè)試邏輯庫(kù),根據(jù)用戶要求和使用習(xí)慣定制軟件頁(yè)面;開放式測(cè)試工程參數(shù):測(cè)試工程關(guān)鍵參數(shù)均可獨(dú)立設(shè)定,提供最大的測(cè)試自由度。同時(shí)支持全自動(dòng)測(cè)量,易用的GUI,及測(cè)試結(jié)果二次處理。

  • 產(chǎn)品特點(diǎn)
  • 主要參數(shù)

lKeysight儀表可提供直流、射頻測(cè)試環(huán)境,硅光儀表包含光波元器件分析儀/光源/偏振控制器/光功率計(jì)等等,達(dá)成各類測(cè)試需求。

l可調(diào)諧激光源與光通信應(yīng)用軟件套件配合使用,可以執(zhí)行插入損耗、偏振相關(guān)損耗和色散等光譜測(cè)量。 它能與多端口功率計(jì)和 偏振合成器結(jié)合使用,為測(cè)量濾波器阻帶和通帶提供更佳的波長(zhǎng)掃描準(zhǔn)確度和出色的動(dòng)態(tài)量程。

lFormFactor最新的CM300全自動(dòng)探針臺(tái)是行業(yè)領(lǐng)先的,以滿足針對(duì)5G及以上應(yīng)用的5,3和2nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)的新測(cè)試能力。新的CM300現(xiàn)在實(shí)現(xiàn)了前所未有的測(cè)量性能,并在晶圓上、低頻閃爍、RTN和相位噪聲測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了四項(xiàng)重要的行業(yè)第一。

l全自動(dòng)硅光測(cè)量軟件SiPh tools,光纖校準(zhǔn)/包含自動(dòng)對(duì)光。配合機(jī)臺(tái)控制軟件Velox實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)硅光測(cè)試。

和創(chuàng)科技提供系統(tǒng)集成軟件,聯(lián)動(dòng)控制探針臺(tái)和儀表,更好地完成自動(dòng)化測(cè)試。


測(cè)量參數(shù):光柵/光波導(dǎo)插損,光譜;

PD&LD,IV,CV,LIV,I-λ,響應(yīng)度;

激光器/探測(cè)器/調(diào)制器帶寬;

眼圖&誤碼率;

半波電壓,終端電阻

光源波長(zhǎng):1240-1380 nm 或 1340-1495 nm 或 1450-1650 nm 或 1490-1640 nm

絕對(duì)波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:±5 pm(靜態(tài))、±10 pm(掃描)典型值。

CM300SiPh:12寸全自動(dòng)硅光探針臺(tái),支持12寸/8寸/6寸及其他尺寸晶圓測(cè)試。

通過消除以往探針臺(tái)中97%以上的環(huán)境噪聲,系統(tǒng)為超低噪聲測(cè)量建立了新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。


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