l光視：晶圓和裸片級(jí)光子學(xué)探測(cè)技術(shù)的革命性進(jìn)步，實(shí)時(shí)原位校準(zhǔn)，單模測(cè)試，真正的芯片級(jí)邊緣耦合，原位功率測(cè)量，先進(jìn)的校準(zhǔn)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)自主測(cè)量。
l水平模級(jí)邊緣耦合：測(cè)試結(jié)果的最高準(zhǔn)確性，最低的耦合損耗，獨(dú)家自動(dòng)化的光纖到小平面對(duì)準(zhǔn)技術(shù)，可重復(fù)獲得測(cè)量結(jié)果，通過(guò)防撞技術(shù)降低損壞光纖的風(fēng)險(xiǎn)，經(jīng)驗(yàn)不足的用戶(hù)易于使用，能夠緊密模擬現(xiàn)實(shí)條件，并且設(shè)備性能最接近最終應(yīng)用。
l晶圓級(jí)邊緣耦合：硬件和軟件功能的創(chuàng)新組合，可在晶圓級(jí)溝槽中對(duì)準(zhǔn)和優(yōu)化光纖/陣列，最小的溝槽尺寸將耦合損耗降至最低，即使經(jīng)驗(yàn)不足的用戶(hù)也可以輕松設(shè)置，獨(dú)特的光纖到端面間隙對(duì)齊技術(shù)，可重復(fù)獲得測(cè)量結(jié)果，通過(guò)防撞技術(shù)降低損壞光纖的風(fēng)險(xiǎn)。
l垂直聯(lián)軸器：垂直耦合至晶圓級(jí)光柵耦合器的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，定位硬件已精確地校準(zhǔn)到探針臺(tái)，并準(zhǔn)備在幾分鐘之內(nèi)執(zhí)行管芯到管芯的光學(xué)優(yōu)化，獨(dú)有的樞軸點(diǎn)校準(zhǔn)可確定光纖/陣列尖端最小平移的最佳點(diǎn)，Search First Light功能可自動(dòng)確定初始位置以進(jìn)行優(yōu)化，其他集成功能：入射角校準(zhǔn)，光學(xué)旋轉(zhuǎn)掃描，光學(xué)掃描數(shù)據(jù)分析，光學(xué)跟蹤，對(duì)準(zhǔn)光學(xué)探頭。
l熱能力：黑暗，屏蔽且無(wú)霜，-40°C至+ 125°C，唯一可用的解決方案可以在低溫下最大程度地減少氣流對(duì)光纖/光纖陣列的影響，從而獲得穩(wěn)定和可重復(fù)的測(cè)量結(jié)果，獨(dú)特的ITO涂層TopHat窗口，易于設(shè)置，可在多個(gè)溫度下進(jìn)行免提自動(dòng)校準(zhǔn)和重新校準(zhǔn)。
l聯(lián)盟掌握了SiPh測(cè)試解決方案的關(guān)鍵：強(qiáng)大的首選合作伙伴關(guān)系是德科技測(cè)量?jī)x器，測(cè)試執(zhí)行器自動(dòng)化并集成到Keysight Pathwave自動(dòng)化測(cè)試，世界一流的精密定位，成為首選合作伙伴物理儀器（PI），通過(guò)創(chuàng)新的工程團(tuán)隊(duì)充分利用專(zhuān)業(yè)知識(shí)。
l獨(dú)家自動(dòng)校準(zhǔn)：領(lǐng)先的自動(dòng)化功能集，可對(duì)探針臺(tái)進(jìn)行光學(xué)定位系統(tǒng)的關(guān)鍵校準(zhǔn)，循序漸進(jìn)的晶圓探測(cè)高度訓(xùn)練，CalVue利用獨(dú)特設(shè)計(jì)的后視鏡技術(shù)無(wú)需外部光線(xiàn)即可查看光纖/陣列的所有方面，并實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)實(shí)時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn)，其他獨(dú)家校準(zhǔn)功能：電機(jī)校準(zhǔn)，z位移校準(zhǔn)，θ校準(zhǔn)，pzt校準(zhǔn)，平面度校準(zhǔn)，自動(dòng)樞軸點(diǎn)校準(zhǔn)。
l經(jīng)驗(yàn)證的性能：獨(dú)家FormFactor開(kāi)發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試方法，通過(guò)測(cè)量耦合功率的可重復(fù)性，展示了已校準(zhǔn)至探針臺(tái)的定位解決方案的全部性能，驗(yàn)證900次測(cè)量中的耦合功率結(jié)果是否小于0.3 dB，在每次測(cè)量之間，所有溶液元素都將移動(dòng)，包括晶片卡盤(pán)，六腳架臺(tái)和壓電臺(tái)架，真正展示了FormFactor自主硅光子學(xué)測(cè)量助手的綜合性能和耐用性。
lFormFactor SiPh-工具：強(qiáng)大的FormFactor開(kāi)發(fā)的軟件包，包括一個(gè)廣泛的工具集，用于啟用和促進(jìn)光學(xué)探測(cè)，通過(guò)將探針臺(tái)機(jī)器視覺(jué)功能與光學(xué)定位和測(cè)試設(shè)備集成在一起，使手動(dòng)任務(wù)自動(dòng)化，功能：測(cè)量位置培訓(xùn)，晶圓培訓(xùn)，自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)功能，校準(zhǔn)晶圓驗(yàn)證，光學(xué)對(duì)準(zhǔn)驗(yàn)證，子管芯管理，多種工具，用于捕獲，記錄和解釋數(shù)據(jù)。
lFormFactor光子控制器接口（PCI）：FormFactor開(kāi)發(fā)的圖形用戶(hù)界面可手動(dòng)控制光學(xué)定位系統(tǒng)，也可用于設(shè)置掃描參數(shù)配置并執(zhí)行初始光學(xué)對(duì)準(zhǔn)功能，對(duì)齊后，所有校準(zhǔn)功能將自動(dòng)實(shí)現(xiàn)，并通過(guò)SiPh-Tools執(zhí)行。
l可重構(gòu)光纖臂：可在單光纖，光纖陣列和邊緣耦合器固定器之間配置，針對(duì)工程和批量環(huán)境的靈活性，更換光纖支架之后，F(xiàn)ormFactor的自動(dòng)校準(zhǔn)程序?qū)⑹鼓趲追昼妰?nèi)備份并運(yùn)行，定制設(shè)計(jì)的納米精度集成Z位移傳感器最大程度地提高了晶片的可測(cè)試區(qū)域，并確保了準(zhǔn)確且可重復(fù)的數(shù)據(jù)收集。