分離式介質(zhì)諧振器法SPDR
分離式介質(zhì)諧振器法SPDR
分離式介質(zhì)諧振器法SPDR
分離式介質(zhì)諧振器法SPDR

分離式介電諧振器 (SPDR) 提供精確的技術(shù),可在 1.1GHz 到 15 GHz 頻率范圍內(nèi)的單一頻率點(diǎn)上測量介電和鐵氧體基片及薄膜復(fù)雜的介電常數(shù)。除了 SPDR 夾具,執(zhí)行測量還需要使用 ENA或PNA等矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和軟件包MTS-2000,該測量是自動(dòng)執(zhí)行,輕松易操作。

SPDR 測量技術(shù)是諧振法之一。諧振法使用單一頻率,諧振器和腔體提供最高精度來測量實(shí)際介電常數(shù),并可測量其他技術(shù)無法測量的損耗極低的材料。應(yīng)在離散頻率點(diǎn)執(zhí)行足夠的測量,因?yàn)闊o損材料幾乎是非分散的。這說明它們的介電常數(shù)和損耗正切值將在頻率范圍保持不變。SPDR 的結(jié)構(gòu)使用了最新的低損耗介電材料,使其能夠建立具有更高 Q 因數(shù)且熱穩(wěn)定性優(yōu)于傳統(tǒng)全金屬腔體的諧振器。

  • 產(chǎn)品特點(diǎn)
  • 主要參數(shù)


l較之傳輸反射法具有出色精度

l能夠測量低損耗材料 (傳輸反射技術(shù)無法材料損耗較低的材料)

l可對(duì)基片、印刷電路板和薄膜進(jìn)行方便、快速的無損測量

l支持高低溫測量


頻率范圍:1.1/2.5/5/10/15 GHz

測量參數(shù):Dk(εr):1~200、εr ”、

Df(tanδε):0.0001~0.05

測量精度:Dk(εr):±3%

Df(tanδε):±5%

溫度范圍:-75~110℃



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