在材料研究、器件分析和顯微原位測試中，真正關(guān)鍵的變化，往往發(fā)生在溫度變化的瞬間。
和創(chuàng)聯(lián)合科技推出的MCLS650V 真空冷熱臺(tái)，面向高端原位測試場景打造，集寬溫域、快速升降溫、高穩(wěn)定控溫、真空/保護(hù)氣環(huán)境兼容于一體，讓樣品在復(fù)雜環(huán)境中的演變過程，看得更清楚，測得更可靠。作為應(yīng)用廣泛的真空加熱與冷凍顯微平臺(tái)，它滿足高加熱/冷凍速率及高精度穩(wěn)定性的多重應(yīng)用需求。
一臺(tái)設(shè)備，覆蓋更寬實(shí)驗(yàn)邊界
MCLS650V 支持 -195℃~650℃的寬溫區(qū)控制，兼顧低溫冷凍與高溫加熱需求；升溫速率最高可達(dá) 150℃/min，冷卻速率可達(dá) 100℃/min，既適合快速篩查，也適合對(duì)關(guān)鍵過程進(jìn)行細(xì)致觀察。
穩(wěn)定控溫，支撐高質(zhì)量原位測試
在原位實(shí)驗(yàn)中，穩(wěn)定性往往比單純“能升溫”更重要。MCLS650V 具備 ±0.02℃（RT~650℃）的溫度穩(wěn)定性，溫度分辨率達(dá)到 0.001℃，并采用 PID 控溫與PT100 A級(jí)溫度傳感器，為高重復(fù)性實(shí)驗(yàn)提供更扎實(shí)的基礎(chǔ)。
真空環(huán)境下，更適合敏感樣品研究
本產(chǎn)品支持真空環(huán)境/保護(hù)氣環(huán)境，并具備原位觀察能力，可更好滿足材料、薄膜、電學(xué)樣品等對(duì)環(huán)境敏感的測試需求。對(duì)于低溫運(yùn)行時(shí)的窗口結(jié)霜問題，系統(tǒng)還支持干燥氮?dú)獯祾叱?；在真空環(huán)境下則無需吹掃。
為顯微觀測而優(yōu)化
MCLS650V 采用石英窗口，窗口通徑18 mm，支持透射光路，并可選配反射光路；透射模式下具備 φ1.7 mm 通光孔徑，同時(shí)支持定制。設(shè)備對(duì)顯微系統(tǒng)適配友好，物鏡最小工作距離 4.5 mm。
小巧緊湊，更易集成
設(shè)備整體尺寸約 135×95×23 mm，重量約700 g，采用 KF16 真空接口，樣品臺(tái)面φ20 mm，樣品臺(tái)材質(zhì)為銀。緊湊設(shè)計(jì)讓其更適合集成到現(xiàn)有顯微系統(tǒng)與原位測試平臺(tái)中。
不只是冷熱臺(tái)，更是原位測試解決方案
MCLS650V 可通過TCS-300 軟件控制并導(dǎo)出測試數(shù)據(jù)，同時(shí)產(chǎn)品已開發(fā)多個(gè)版本，可面向壓力、真空、濕度和電學(xué)樣品測量等不同應(yīng)用場景，為用戶提供更具擴(kuò)展性的原位測試方案。
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