InfinityXF?探針(單次掃描高達(dá)250G)——重新定義晶圓級(jí)寬帶測(cè)試
發(fā)布日期:
2025-10-14

隨著半導(dǎo)體器件不斷向更高頻率和更緊密集成度發(fā)展,晶圓級(jí)測(cè)試也必須同步革新。從事6G技術(shù)、高速互連、采用先進(jìn)調(diào)制方案的數(shù)字高帶寬通信系統(tǒng)以及下一代無(wú)線系統(tǒng)研發(fā)的工程師們,需要在以往難以企及的高頻范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)精確、高效且可重復(fù)的測(cè)試性能。

正因如此,F(xiàn)ormFactor公司隆重推出InfinityXF?探針——這款新型同軸晶圓探針可在單次掃描中實(shí)現(xiàn)從直流到250GHz的寬帶性能測(cè)試。

InfinityXF探針基于成熟的Infinity平臺(tái)構(gòu)建,將帶寬擴(kuò)展至250GHz,無(wú)需使用多個(gè)頻率擴(kuò)展模塊或執(zhí)行復(fù)雜的校準(zhǔn)步驟。該探針與是德科技 (Keysight Technologies) 聯(lián)合開(kāi)發(fā),可與PNA-X測(cè)試系統(tǒng)和新型250GHz同軸頻率擴(kuò)展模塊無(wú)縫協(xié)作,并采用堅(jiān)固耐用的0.5毫米同軸連接器。

這種方案能簡(jiǎn)化晶圓測(cè)試流程,避免同軸與波導(dǎo)探針混用的情況,并大幅減少設(shè)置時(shí)間。最終實(shí)現(xiàn):更快的測(cè)量速度、穩(wěn)定的可重復(fù)性以及更低的S參數(shù)測(cè)量不確定度。

InfinityXF?探針(單次掃描高達(dá)250G)——重新定義晶圓級(jí)寬帶測(cè)試

InfinityXF探針的核心特性包括:

? 單次掃描范圍高達(dá)250GHz,且具有無(wú)與倫比的精度

? 靈活配置——提供GSG、GSGSG和GSSG等多種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),支持50μm至150μm的間距(首批支持50/75/100μm,更多規(guī)格持續(xù)更新)

? 超緊湊設(shè)計(jì)——可直接對(duì)接是德科技NA5307A測(cè)試儀,在保持優(yōu)異回波損耗的同時(shí)降低插入損耗

? 清晰探針針尖可視性——實(shí)現(xiàn)更精準(zhǔn)一致的探針定位,節(jié)省設(shè)置時(shí)間并減少誤差

? 耐用銠金探針針尖——提供穩(wěn)定低阻接觸,專為長(zhǎng)期使用設(shè)計(jì)

? 寬溫工作范圍——在-40°C至+175°C環(huán)境下可靠工作,兼容FormFactor EMI屏蔽TopHat腔體及開(kāi)放式IceShield?超溫測(cè)試環(huán)境

? 自動(dòng)化就緒——可與FormFactor自動(dòng)射頻測(cè)量助手協(xié)同工作,實(shí)現(xiàn)24小時(shí)無(wú)人值守自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試

InfinityXF?探針(單次掃描高達(dá)250G)——重新定義晶圓級(jí)寬帶測(cè)試

InfinityXF探針設(shè)計(jì)適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景,包括:

? 寬帶建模與器件特性分析

? 高速數(shù)字通信測(cè)試(如PAM4 448Gb調(diào)制及PCIe Gen6標(biāo)準(zhǔn))

? 負(fù)載牽引與噪聲特性測(cè)試

? 多千兆比特(Multi-Gbps)系統(tǒng)及TIA(跨阻放大器)測(cè)試

? 諧波與頻譜純度測(cè)量

InfinityXF?探針(單次掃描高達(dá)250G)——重新定義晶圓級(jí)寬帶測(cè)試

該探針與EVOLVITY? 300、CM300xi和SUMMIT200探針系統(tǒng)完全兼容,為研發(fā)與生產(chǎn)應(yīng)用提供靈活解決方案。

通過(guò)將同軸單次掃描寬帶探測(cè)能力擴(kuò)展至250GHz,InfinityXF為工程師提供了突破先進(jìn)設(shè)計(jì)極限所需的精確度與可靠性。無(wú)論是驗(yàn)證下一代無(wú)線系統(tǒng),還是確保超高速數(shù)字鏈路的信號(hào)完整性,InfinityXF都能助您以更高效率和更大信心完成測(cè)試任務(wù)。


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