1）投射電鏡

透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡稱TEM），可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2 μm的細微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。

結(jié)果呈現(xiàn)：

2）掃描電鏡

掃描電鏡（SEM）利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡對二次電子、背散射電子的采集，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息。掃描電鏡有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡單，不含水的樣本可以不用固定。掃描電鏡HITACHI Regulus 8100。

掃描電鏡HITACHI Regulus 8100主要技術(shù)指標(biāo)：

二次電子分辨率：1.0 nm（加速電壓15 kV、WD=4mm）1.3 nm（加速電壓1kV、WD=1.5mm）

放大倍數(shù)：1000～1000,000

加速電壓：0.1-30KV

結(jié)果呈現(xiàn)：